芯片失效分析主要应用于提高芯片良率(Yield Enhancement)以及反向工程(Reverse Engineering),包括芯片开盖(Chip Decap)、钝化层/绝缘层去除(Delayer)、铝线/铜线去除、粘附层去除、背硅减薄(Backside Silicon Access)等具体技术手段,其中去层技术(Delayer)需要完整地去除金属线之间绝缘层,恰到好处地将下一层金属线暴露出来,有时还需要保留金属线之间的过孔(Via hole),以及去除粘附层,是失效分析中一项具有挑战性的技术。 我们从用户具体要求出发,开发了专门适用于失效分析的反应离子刻蚀机台(SHL FA100/150/200 RIE/ICP),将工艺稳